四探針測試儀測量方法?
有多種類型的四探針電阻率測試儀，例如高溫和室溫，并且不同的四探針電阻率測試儀為每種材料測量不同的參數(shù)。例如，高溫四探針電阻率測試儀可以測量硅和鍺單晶的電阻率，硅外延層，擴散層和離子注入層的平方電阻，以及導電玻璃和其他導電材料的平方電阻，主要用于薄膜和片材的導電性能。四探針電阻率測試儀是關(guān)鍵的測量參數(shù)，它是半導體材料的電阻，電阻率和抗粘連性。
半導體電阻率測量方法?
測量半導體電阻率方法的測量方法主要根據(jù)摻雜水平的高低，半導體材料的電阻率可能很高。有多種因素會使測量這些材料的電阻率的任務復雜化，包括與材料實現(xiàn)良好接觸的問題。特殊的探頭設(shè)計用于測量半導體晶片和半導體棒的電阻率。這些探頭通常由諸如鎢的硬質(zhì)金屬制成，并接地到探頭。在這種情況下，接觸電阻很高，必須使用四點共線探針或四線絕緣探針。兩個探針提供恒定電流，另外兩個探針測量整個樣品一部分的電壓降。您可以使用所測電阻的幾何尺寸來計算電阻率。盡管此度量看似簡單，但仍有一些問題需要注意。正確屏蔽探頭和測量導線非常重要，其原因有以下三個：
1、一個電路具有高阻抗，因此容易受到靜電干擾。
2、半導體材料觸點可對二極管效應吸收的信號進行整流，并將其顯示為直流偏移。
3、材料通常對光敏感。
